一、概述
镀层膜厚仪是一种用于测量工业制品表面涂层或镀层的厚度的仪器，它可以通过反射或透射光线或电磁波来测量涂层或镀层的厚度。该仪器广泛应用于材料科学、制造业、涂层和表面工艺领域。
二、工作原理
工作原理是利用不同类型的传感器，利用电流、光线反射和透射等方法，获得表面涂层厚度的信息。
三、分类
按照测量原理分类，可以分为以下几类：
1.X射线膜厚仪
2.电磁涡流膜厚仪
3.光学膜厚仪
4.激光光谱膜厚仪
5.螺旋扫描膜厚仪
按照用途分类，可以分为以下几类：
1.金属表面涂层或镀层测量仪
2.金属和非金属表面涂层或镀层测量仪
3.软膜和有机膜测量仪
4.半导体或者电子元器件重要部位多层结构膜厚测量仪
按照测量范围分类，可以分为以下几类：
1.纳米级膜厚测量仪
2.微米级膜厚测量仪
3.毫米级以上膜厚测量仪
四、构造
基本构造包括：测量头、传感器、主机、控制电路和显示器等组成。其构造特点主要根据所采用的测量原理和应用场景而决定。
1.测量头：根据不同的测量精度和应用场景而设计的。测量头通常是由滑动、转动、伸缩等手段组成，用于向被测物体的表面靠近。在具体的测量任务中，不同的测量头可能会有不同的设计，并配有不同类型的探测器。
2.传感器：其不同的设计原理直接影响了测量的精度和应用场景。传感器的设计通常包括探头、光源、光束分离器、探测器、电路和处理器等。
3.主机：指与传感器和测量头连接的控制中心，包括供电和控制电路，以及显示器和数据接口等。主机的设计应保证可靠性和稳定性，以及灵活的数据处理能力，从而满足各种不同的应用要求。
