| 品牌 | Calmetrics/美国 | 价格区间 | 1千-5千 |
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| 产地类别 | 国产 | 应用领域 | 地矿,电子,冶金,汽车,电气 |
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美国Calmetrics镀层标准片适用于X射线类仪器的标准。市面上绝大多部分的手持式荧光仪的厚度标准件都来自于美国Calmetrics公司。适用于费希尔Fischer、牛津Oxford、CMI、热电Thermo、Veeco、微先锋MicroPioneer、精工Seiko、岛津、电测、纳优、天瑞、华唯等各厂牌X-ray(X射线测厚仪)、β-ray(β射线测厚仪)、磁感式及涡电流等多种原理的各种规格与尺寸。
美国Calmetrics通常作用：
1、用来对膜厚仪工作状态的准确性和稳定性进行校验。在膜厚仪测试过程中对膜厚仪运行过程中，确认工作状态。防止膜厚仪故障状态时能*时间确认。
2、专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。
软件测试流程
一：参数设置
1.峰位校准参数，元素Ag通道552
1)开机后预热，步骤为：放入Ag元素片→产品程式→选择→预热→开始。
2)：参数→峰位校准参数→管流设置(0.1准直器设置为3000左右，0.2准直器设置为1000左右，根据不同的准直器，设置合适的管流，保证Ag计数率在2200左右，)
3)峰位校正：点击
→开始→自动进入峰位校正程序，保证Ag峰通道在552，成功后进入校正Cu元素界面，更换Cu元素片，峰通道在198，峰位校正成功。
